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JIS X5059-3-1999 信息技术.安全技术.不可抵赖.第3部分:利用不对称技术的方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-12 11:56:12  浏览:8006   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Informationtechnology--Securitytechniques--Non-repudiation--Part3:Mechanismsusingasymmetrictechniques
【原文标准名称】:信息技术.安全技术.不可抵赖.第3部分:利用不对称技术的方法
【标准号】:JISX5059-3-1999
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:1999-11-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonInformationTechnology
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:编码(数据转换);数据处理;信息交流;数据存储保护
【英文主题词】:dataprocessing;coding(dataconversion);informationexchange;datastorageprotection
【摘要】:否認防止サービスの目的は,主張された行動又は事象が発生したか否かの紛争を解決するために,その事象又は行動に関する証拠を生成し,収集し,管理し,利用可能にし,及び有効性を確認することである。この規格(第3部)は,非対称暗号技術を用いる,通信に関する幾つかの特定の否認防止サービスのための機構を規定する。次の否認防止サービスを確立するための否認防止機構を規定する。
【中国标准分类号】:L70
【国际标准分类号】:35_040
【页数】:16P;A4
【正文语种】:日语


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基本信息
标准名称:半导体分立器件3DA509型硅微波脉冲功率晶体管详细规范
英文名称:Semiconductor discrete devices Detail specification for type 3DA509 silicon microwave pulse power transistor
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 半导体分立器件 >> 半导体三极管
ICS分类: 电子学 >> 半导体器件
发布日期:2004-08-02
实施日期:2004-12-01
首发日期:
作废日期:
起草单位:信息产业部电子第四研究所
出版日期:
页数:10页
适用范围

本规范规定了3DA509型硅微波脉冲功率晶体管(以下简称器件)的详细要求。

前言

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所属分类: 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 半导体三极管 电子学 半导体器件
【英文标准名称】:TestMethodforDeterminingLow-LevelX-RadiationSensitivityofPhotographicFilms
【原文标准名称】:测定摄影胶片的低等级X射线的辐射灵敏度的试验方法
【标准号】:ASTMF947-1985
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1985
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:X射线;影片;灵敏度;摄影胶片;最终制品;试验
【英文主题词】:films;sensitivity;photographicfilm;enduseproducts;testing;x-rays
【摘要】:
【中国标准分类号】:G80
【国际标准分类号】:37_040_20
【页数】:4P;A4
【正文语种】:英语